期刊資訊

科儀新知

本期卷期 26:4=144
出刊日期 200502
並列刊名 Instruments Today
刊期 季刊
ISSN 1019-5440
出版單位 財團法人國家實驗研究院 / 儀器科技研究中心
出刊地 台灣
出刊語言 中文繁體
發行狀態 繼續發行

簡介

刊載有關化學分析、工業檢測、材料科學、資訊科學、真空系統、光電工程、半導體元件以及醫療、生化等儀器系統之原理與應用。
自2014起原雙月刊改季刊發行。

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  • 本期卷期：26:4=144
  • 出刊日期：200502
共9筆資料，第1/1頁，
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1 生根在中研院物理所的掃描探針顯微術 黃英碩、張嘉升、洪紹剛、陳彥甫、胡恩德、楊志文、陳雅柔
2 掃描探針顯微鏡在環境控制下之應用 丁志強、周書燈
3 多波長光學讀寫頭技術 施錫富
4 尖端科技單晶X光繞射儀的CCD偵測系統 王素蘭
5 雙偏極化干涉術--生物分子奈米量測 林雲漢、陳吉良、王裕銘、王安邦、黃榮山、李世光、林世明
6 碳材料之場發射機制探討 陳聖元、呂助增、李明謁、陳麒麟
7 掃描探針顯微術的原理及應用 黃英碩
8 最新製備型HPLC技術在樣品純化上的應用 周泳杉
9 開放式數位微流體操控晶片研究 莊漢聲、楊正財、謝長原、范光錢、饒達仁
共9筆資料，第1/1頁，

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