期刊資訊

科儀新知

本期卷期 34:6=194
出刊日期 201306
並列刊名 Instruments Today
刊期 季刊
ISSN 1019-5440
出版單位 財團法人國家實驗研究院 / 儀器科技研究中心
出刊地 台灣
出刊語言 中文繁體
發行狀態 繼續發行

簡介

刊載有關化學分析、工業檢測、材料科學、資訊科學、真空系統、光電工程、半導體元件以及醫療、生化等儀器系統之原理與應用。
自2014起原雙月刊改季刊發行。

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  • 本期卷期：34:6=194
  • 出刊日期：201306
共9筆資料，第1/1頁，
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序號 篇名 作者 關鍵詞 下載 收藏
1 三次元接觸式掃描探頭之研製 朱志良、陳泓錡、柯志憲
2 AMOLED 顯示器關鍵製程檢測技術 楊富程
3 高速線掃描之晶背瑕疵自動光學檢測系統 陳銘福、黃柏瑄、周志忠、翁睿謙
4 震動調變之子孔徑接合干涉術 林柏至、張鴻聖、陳怡君、梁肇文
5 微機械式射頻開關 蔡宗佑、楊閔智、戴慶良
6 複合結構光式動態三維形貌精密量測技術 陳亮嘉、翁明軒
7 LED光源之再生能源應用與發展 周榮源
8 科儀新產品
9 科儀新知第三十四卷目錄索引
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