期刊資訊

界面科學會誌

本期卷期 28:1
出刊日期 200603
並列刊名 Journal of the Chinese Colloid and Interface Society
刊期 季刊
出版單位 中華民國界面科學學會
出刊地 台灣
出刊語言 中文繁體;英文
發行狀態 停刊

簡介

刊載與界面科學相關之中英文稿件,包括學術性論文、回顧文章、通訊報導及工業應用性之科技報導

  • 本期卷期:28:1
  • 出刊日期:200603
6筆資料,第1/1頁,
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1 Review Paper Copper Wafer Bonding: Interface Analysis and Characterization 陳冠能、Reif, Rafael 晶圓接合氧化物微結構晶粒取向Wafer bondingCopperOxidationMicrostructureGrain orientation 暫不開放 
2 Electrochemical Copper Metallization and Interface Adhesion Measurement for ULSI Application 張守一、林樹均 電化學金屬化製程界面強度ElectrochemistryMetallizationInterface adhesion
3 氮化鎵基板上成長氧化鋅奈米線 曾永寬、林延儒、許正良、蔡健益、張守進、郭忠義、陳一誠 奈米線氧化鋅氮化鎵NanowiresZnOGaN
4 表面活化技術在低溫金-金接合之研究 陸蘇財、林耀生、黃昱瑋 表面活化接合奈米界面接合低溫接合Au-Au interconnectionLow temperature bondingSurface activated bonding
5 覆晶構裝:電鍍鎳、電鍍銅和無電鍍鎳(磷)阻障層與無鉛錫球接點之界面反應研究 張恕銘、汪若蕙、劉道奇、胡旭添、陳國銓、陳俞坊、陳裕華 無鉛材料球下金屬層電鍍鎳電鍍銅無電鍍鎳Lead free soldersUBMElectroplating NiElectroplating CuElectroless Ni 暫不開放 
6 鎳金屬奈米點陣與矽晶基材間界面反應之研究 鄭紹良、呂紹瑋、陳暉 奈米球微影術矽化物界面反應奈米點陣Nanosphere lithographySilicideInterfacial reactionNanodot array
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