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品質月刊
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| 篇名 | 製程能力分析管控液晶臨界電壓 |
|---|---|
| 卷期 | 43:1 |
| 並列篇名 | Process Capability Analysis Applied for Threshold Voltage Control |
| 作者 | 葉忠 、 李威寧 |
| 頁次 | 068-074 |
| 關鍵字 | 液晶 、 製程能力分析 、 臨界電壓 、 CSTN 、 Liquid crystal 、 Process capability analysis 、 Color STN 、 Threshold voltage |
| 出刊日期 | 200701 |