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科儀新知

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篇名 X光倒易空間圖譜技術分析矽鍺異磊晶材料的應變
卷期 29:1=159
並列篇名 Strain Studies of Silicon-Germanium Hetero-Epitaxial Layer by X-ray Reciprocal Space Mapping
作者 鄭明欣林宏旻鍾明光
頁次 91-99
出刊日期 200708

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