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科儀新知

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篇名 商用原子力顯微儀的評估方法
卷期 27:2=148
並列篇名 A Quick Method of Evaluation for Commercial Atomic Force Microscope
作者 林明彥 、 洪紹剛 、 應雄 、 阮基晏 、 劉瑋哲 、 蘇揚智 、 陳雅柔 、 楊志文
頁次 58-65
出刊日期 200510

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