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科儀新知

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篇名 掃描探針顯微術於光電檢測之機制
卷期 26:6=146
並列篇名 Mechanisms of Scanning Probe Microscopy in Electro-Optical Analysis
作者 林宇軒 、 蘇健穎 、 潘漢昌 、 蕭銘華
頁次 52-62
出刊日期 200506

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