篇名 | 原子力顯微術之力--距離曲線於微管壁電雙層特性之評估 |
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卷期 | 27:3/4 |
並列篇名 | Evaluation of Electrical Double Layer on Electrode Surface by Force-distance Curve of AFM |
作者 | 呂明泰 、 林俊勳 、 吳靖宙 、 張憲彰 |
頁次 | 207-216 |
關鍵字 | 電滲流 、 原子力顯微鏡 、 界面現象 、 電雙層 、 Electroosmotic flow 、 Electric double layer 、 Self-assemble monolayer 、 Force curve 、 Atomic force microscopy |
出刊日期 | 200509 |