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科學與工程技術期刊
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| 篇名 | 以失效模式與效應分析為基的製程問題分析模式--以奈米探管背光模組為例 |
|---|---|
| 卷期 | 5:4 |
| 並列篇名 | An Analytical Model for an FMEA-Based Manufacturing Process Problem Applied to a Carbon Nano-tube Back-Light Unit |
| 作者 | 邱創鈞 、 方勇盛 、 蔡禎騰 |
| 頁次 | 1-19 |
| 關鍵字 | 失效模式與效應分析 、 故障樹 、 特性要因圖 、 模糊德菲法 、 奈米碳管背光模組 、 Failure mode and effect analysis 、 FMEA 、 Fault tree analysis 、 FTA 、 Cause and effect diagram 、 Fuzzy delphi 、 Carbon nano-tube back light unit 、 CNT-BLU |
| 出刊日期 | 200912 |