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中興工程

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篇名 薄膜界面探測系統(MIP)於土壤及地下水污染調查之應用與案例
卷期 114
作者 曲可喬
頁次 63-67
關鍵字 揮發性有機物現地直接貫入快速調查技術薄膜界面探測系統VOCsMIP
出刊日期 201201

中文摘要

以往對於場址土壤及地下水揮發性有機物(VOCs)之污染調查,多藉由直接的土壤氣體、土壤採樣及監測井地下水採樣等方法,以逐點逐項之方式進行地下污染查證,要達到良好之調查效率往往需要投入較多的成本,近年來因應各類型場址土壤及地下水污染調查及整治之需,已發展各類型多樣化之現地直接貫入(Direct Push)快速調查技術,其中薄膜界面探測系統(Membrane Interface Probe, MIP)由於可即時掌握污染物濃度及分布,相較於傳統採樣後送實驗室分析之方式,於同等或較低之成本條件下,具有高效率之優勢,因此近年於國內廣為引用。本文將針對MIP系統之原理、操作步驟、適用與限制條件,以及實際運用於環境污染評估之案例作說明。

英文摘要

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