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先進工程學刊
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| 篇名 | a-Si 液晶顯示器掃描線驅動陣列佈局與檢測 |
|---|---|
| 卷期 | 8:4 |
| 並列篇名 | Layout and Testing of a-Si LCD Scan-Line Driver Array |
| 作者 | 余志隆 、 溫武義 |
| 頁次 | 161-164 |
| 關鍵字 | 窄邊框 、 掃描線驅動電路 、 檢測 、 佈局 、 欠陷 、 narrow bezel 、 gate on array 、 array testing 、 layout 、 defect |
| 出刊日期 | 201310 |
中文摘要
a-Si液晶顯示器增加了窄邊框規格，最佳之方法是將掃描線驅動電路於陣列 製程中完成。於本論文中我們定義了一種掃描線驅動電路陣列之檢測方法及方式。
英文摘要
In this paper, an a-Si TFT LCD with narrow bezel specification is completed through the gate driver circuitry of the array process to its optimal solution. And the a-Si LCD scan-line driver array layout is presented to define a testing method for the above gate driver array circuit.