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儀科中心簡訊
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國家儀器 (National Instruments, NI)自2001年起舉辦NI應用徵文比賽，為 NI 產品使用者打造研究成果發表的平台，本中心以「應用多功能顯微 量測系統於雷射加工機之製程參數最佳化」及「創新 MOCVD 磊晶系統之 FTIR in-situ 即時監控製程開發」之學界系統開發成果，參加第十四屆 NI 應用徵文競賽，分別榮獲「消費性電子產品與半導體 IC 驗證自動化測試」冠軍及「進階研究組」亞軍獎項，展現亮麗佳績。本中心的研發成果具創新性與 多元的實用價值，同時具有智慧人機介面與儀器系統整合技術，可提供學界 客製化與多樣化儀器系統創新開發服務，協助研發創意轉化至產業應用快速驗證，創造產業經濟價值。