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篇名 晶背瑕疵即時檢測技術與系統研製
卷期 133
作者 陳銘福
頁次 011-011
出刊日期 201602

中文摘要

本中心「光學檢測與量測運用系統研發團隊」近幾年投入光學檢測與量測運用技術與系統研發，開發完成系列的自動 光學檢測 (AOI) 系統，其中「線掃描取像之晶背瑕疵自動光學檢測系統」為具有多項優勢的光學檢測系統，與合作廠商的 揀晶機完成系統整合與測試，成功銷售至國內外封裝廠。

英文摘要

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