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中文摘要
本研究以國立清華大學光測力學實驗室之全場應力量測專利技術－高等反射式光彈理論 (advanced reflection theory of dhotoelasticity, ARToP) 與反射式加強曝光光彈理論 (reflection-type enhanced exposure theory of photoelasticity, R-EEToP) 為基礎，不僅針對整體機構架設與光路進行設計來將各光學元件模組化和系統化，且透過 LabVIEW 軟體進行光源、相機與步進馬達之自動化控制與人機介面程式之開發，建立了一套兼具巨觀與微觀尺度應力自動化量測且可數位程控之模組系統，並探討此模組系統之量測可行性與精準度，此模組系統具備全場性、快速性、非破壞性、高精準性且可攜式自動化量測之特性。